介电常数介质损耗测试仪-介电常数测试仪

简要描述：介电常数及介质损耗测试仪是根据GB/T 1409《测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的试验方法》（等效采用IEC 60250）设计和制造的，并符合JB 7770等试验方法。它适用于在高频（1MHz）下绝缘材料的测试。

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厂商性质：生产厂家
更新时间：2025-07-20
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介电常数测试仪

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详细介绍

品牌	AIRTIMES/通宝TB888时代

    ZJD-A介电常数及介质损耗测试仪仪器介绍

    ZJD-A介电常数及介质损耗测试仪是根据GB/T 1409《测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的试验方法》（等效采用IEC 60250）设计和制造的，并符合JB 7770等试验方法。它适用于在高频（1MHz）下绝缘材料的测试。

    技术参数

    1 Q值测量范围：5～999

    Q值量程分档：30、100、300、999、自动换档或手动换挡

    误差：25kHz～10MHz   ≤5%±满度值的2%

    10MHz～50MHz  ≤7%±满度值的2%

    2 电感测量范围：0.1μH～1H  分七个量程

    3 电容测量范围：1PF～460PF

    主电容调节范围：40PF～500 PF

    准确度：150PF以下±1.5PF

    150PF以上±1%

    微调电容调节范围：-3PF～0PF～+3PF

    准确度：±0.2PF

    4 频率覆盖范围：25 kHz～50MHz 分七段

    指示误差：2×10-4±2个字

    5 电源：220V±22V   50Hz±2.5Hz   25W

    6 环境温度：(0～+40)℃

    7 相对湿度：RH<80%

    8 外形尺寸：380mm×132mm×280mm

    9 重量：约7kg

    通宝TB888时代所有产品质保两年，终身维修,请放心浏览选购。

    ZJD-B数字式介电常数及介质损耗测试仪

    仪器介绍

    ZJD-B全数字显示介电常数及介质损耗测试仪是根据GB/T 1409《测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的试验方法》（等效采用IEC 60250）设计和制造的，并符合JB 7770等试验方法。它适用于在高频（1MHz）下绝缘材料的测试。

    ZJD-B数字式介电常数及介质损耗测试仪读书清晰,无须换算,操作简便,特别适合电子元器件的质量分析,品质控制,科研生产,也可用于高校的电子信息,电子通信,材料科学等专业作科研实验仪器.

    技术参数

信号源频率范围	DDS数字合成 10KHz-60MHz	Q测量范围	1-1000自动/手动量程
信号源频率覆盖比	1900/9/6 0:01	Q分辨率	4位有效数,分辨率0.1
信号源频率精度	3X10 -5 ±1个字,6位有效数	Q测量工作误差	<5%
电感测量范围	15nH-8.4H,4位有效数,分辨率0.1nH	调谐电容	主电容30-500PF
电感测量误差	<5%	调谐电容误差和分辨率	±1.5P或<1%
标准测量频点	全波段任意频率下均可测试	Q合格预置范围	5-1000声光提示
谐振点搜索	自动扫描	Q量程切换	自动/手动
谐振指针	LCD显示	LCD显示参数	F,L,C,Q,波段等

    通宝TB888时代所有产品质保两年，终身维修,请放心浏览选购。

    ZJD-C介电常数及介质损耗测试仪仪器介绍

    ZJD-C介电常数及介质损耗测试仪是根据GB/T 1409《测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的试验方法》（等效采用IEC 60250）设计和制造的，并符合JB 7770等试验方法。它适用于在高频（1MHz）下绝缘材料的测试。

    技术参数

    ZJD-C介电常数及介质损耗测试仪作为一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前高的160MHz。 ZJD-C介电常数及介质损耗测试仪采用了多项技术：

    1 双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。

    2 双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。

    3 双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。

    4 自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。

    5 全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。

    6 DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真，频率的高精确、幅度的高稳定。

    7 计算机自动修正技术和测试回路*化 —使测试回路残余电感减至zui低，** Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。

    ZJD-C介电常数及介质损耗测试仪的创新设计，无疑为高频元器件的阻抗测量提供了*的解决方案，它给从事高频电子设计的工程师、科研人员、高校实验室和电子制造业提供了更为方便的检测工具，测量值更为精确，测量效率更高。使用者能在仪器给出的任何频率、任意点调谐电容值下检测器件的品质，无须关注量程和换算单位。

	主要技术特性
Q 值测量范围	2 ～ 1023,量程分档： 30 、 100 、 300 、 1000,自动换档或手动换档
固有误差	≤ 5％±满度值的 2％(200kHz～10MHz),≤6％±满度值的2％（10MHz～160MHz）
工作误差	≤7％ ± 满度值的2％(200kHz ～ 10MHz),≤8％ ± 满度值的2％(10MHz～160MHz)
电感测量范围	4.5nH ～ 140mH
电容直接测量范围	1 ～ 200pF
主电容调节范围	18 ～ 220pF
主电容调节准确度	120pF 以下 ± 1.2pF;120pF 以上 ± 1 ％
信号源频率覆盖范围	100kHz ～ 160MHz
频率分段(虚拟)	100 ～ 999.999kHz,1 ～ 9.99999MHz,10 ～ 99.9999MHz,100 ～ 160MHz
频率指示误差	3 × 10 -5 ± 1 个字

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