介电常数测试仪

介电常数测试仪Q表

介电常数测试仪概述

ZJD-B数显Q表是一种多功能、多用途、多量程数字的化阻抗测试仪器。它是根据串联谐振原理，以电压比值刻度Q值的。

它能测量高频电感和谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角。配以夹具WY914介质损耗装置对绝缘材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。

1、特点：

• 本公司创新的自动Q值读取技术，测Q精度和速度大大提高。
• 低至20nH残余电感，保证高频时直读Q值的误差较小。
• 特制LCD屏菜单式显示多参数：Q值，测试频率，调谐状态等。
• Q值量程自动/手动量程控制。
• 数字化Q值予置，能提高批量测试的可靠性和速度。
• VCO调节测试频率，其平滑的连续频率变化，能便捷的进行△f法测量Q值。

所以本仪器使用方便，具有较高测量精度和理想的稳定度。能广泛地用于科研机关、学校、工厂等单位。

2、工作特性

2.1 Q值测量：

2.1.1 Q值测量范围：5～999三位数显。 

2.1.2 Q值量程分档： 100、316、999，量程可自动切换。

2.1.3 标称误差：（※） 

  频率范围：50kHz～10MHz         频率范围：10MHz～25MHz

固有误差：±5%±满刻度的2%     固有误差:﹤±8%±满刻度的2%  

工作误差：±7%±满刻度的2%     工作误差:﹤±10%±满刻度的2%

频率范围：25MHz～50MHz           

固有误差：±12%±满刻度的2%

工作误差：±15%±满刻度的2%   

Q值误差说明：

※用经计量单位检定的标准线圈的标称有效Q值为标准，按变频法测得的均值为定标值（按照国家计量单位检定规程：JJF1073-2000高频Q表校准规范）。

具体修正系数见表1(P13)

2.2 电感测量：

2.2.1 测量范围：0.1μH～100mH

2.2.2 分六个量程：0.1～1μH、1～10μH、10～100μH、0.1～1mH，

1mH～10mH、10mH～100mH

• 测量误差：﹤5%±0.02μH

2.3 调谐电容器特性：

2.3.1 电容量范围：主调电容器：40～500pF

      刻度误差：≤±1% ±1pF

      微调电容器：-3PF～0～+3PF

      分辨率：0.2PF

2.4  频率范围及刻度误差：

2.4.1 50kHz～50MHz，分六档频段,四位数显。

2.4.2 工作误差：＜0.1%

2.5 Q合格指示预置：

预置范围5～999，设置误差：±1%。

2.6 正常工作条件：

环境温度：-0℃～+40℃

相对湿度：＜80%

大气压力：750±30mmHg

电源：220V±10%  50Hz±4%

2.7 其它：

消耗功率：约20W。

净重：7kg

外形尺寸：415(长)×180(高)×170(宽)（mm）

夹具

1、概述

ZJD-B介质损耗测试装置和ZJD-B系列Q表及电感器配用。能对绝缘材料进行高频介质损耗角正切值和介电常数的测试。ZJD-B选用φ38极片，符合国标GB/T 1409-2006和GB/T 1693-2007推荐的测量方法。

2、工作特性

2.1 平板电容器：

极片尺寸：ZJD-B φ38 mm（符合国标）

极片间距可调范围和分辨率：0～8mm，±0.01mm 

2.2 圆筒电容器：

电容量线性：0.33pF/mm±0.05pF。

长度可调范围和分辨率：0~25mm，±0.01mm（±4.2pF）

2.3 夹具插头间距：

25mm±0.1mm

2.4 夹具损耗角正切值：

≤4×10-4（1MHz时）

3、工作原理

   本测试装置是由二只测微电容器组成。平板电容器一般用来夹被测样品。圆筒电容器是一只分辨率高达0.0033PF的线性微可变电容器。配合Q表作为指示仪器。平板状的绝缘材料的损耗角正切值和介电常数是通过被测样品放进平板电容器和不放进样品的Q表Q值显示变化量的大小以及调谐电容值变化，或由圆筒电容器的刻度读值变化值而换算得到的。同时，由平板电容器的刻度读值变化而换算也能得到介电常数值。